X—射线衍射仪

 

X—射线衍射仪

 

（X-raydiffractometer）

 

仪器型号：D/max-2600/PC

 

生产厂家：日本理学公司

 

仪器简介：

 

能够进行粉末样品的物相定性与定量分析，确定材料的晶系、晶粒大小与畸变，是新型的粉末X射线衍射仪。能够进行Rietveld结构分析、薄膜样品的物相分析、应力分析，计算结晶化度、晶粒大小、小角散射与纳米材料粒径分布。

 

主要技术参数：

 

1. X射线发生器功率为9KW

 

2. 高反射效率的石墨单色器

 

3. 广角衍射扫描2q：-10°～+154°

 

4. 广角测角仪最小步进为1/10000°

 

5. 广角测角仪配程序式可变狭缝（0.01-7mm, 0.01mm/步）

 

6. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）

 

应用领域：

 

1. 样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品的物相分析
6. 小角散射与纳米材料粒径分布

 

标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、纳米材料。材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。