霍尔效应测试仪
霍尔效应测试仪简介
1、型号:HL5500PC
2、生产厂家:Nanometrics Inc.
3、仪器简介：
1) 可测试半导体材料及外延层材料电阻系数，载流子浓度及迁移率；
2) 应用材料：Si、III-V、II-VI和宽禁带半导体材料，铜铟镓锡薄膜等；
3) 使用永久磁场：磁场强度0.32T±1%,十年内漂移率小于0.1%,中心25mm内磁场均匀度小于1%；
4) 可测试高达100GΩ/□的样品；
5) 可进行变温霍尔测试（80K-500K）。
4、应用领域：
霍尔效应的测量是研究半导体性质的重要实验方法。利用霍尔效应，可以确定半导体的导电类型和载流子浓度，通过霍尔系数和电导率的联合测量，可以用来研究半导体的导电机构(本征导电和杂质导电)和散射机构(晶格散射和杂质散射)，进一步确定半导体的迁移率、禁带宽度、杂质电离能等基本参数。测量霍尔系数随温度的变化，可以确定半导体的禁带宽度、杂质电离能及迁移率的温度特性。
