仪器简介

Tecnai  G²F20透射电子显微镜的特殊设计可以快速有效地采集和处理信号，将高分辨图像、明场/暗场图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G²F20成为材料分析研究的重要仪器。标准型仪器提供了多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(最大35^o)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的样品台。Tecnai G²F20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G²F20为材料分析提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G²F20都能够满足日益增多的样品数量。

技术参数

最大放大倍数： 105万倍 (1,050,000×)

点分辨率： 0.24 nm

加速电压： 200 kV

晶格分辨率：0.102 nm

样品台：普通单、双倾台  

最大倾转角：±35°

X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92

X射线能谱仪能量分辨率小于 136 eV

功能范围

Tecnai  G² F20 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200kV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、SEAD、STEM、EDX频谱成像等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。利用它可进行：（1）形貌分析，它获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)；（2）结构分析，观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨电子显微观察，电子衍射，会聚束电子衍射， Z-衬度（原子序数）成像等。成分分析：小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。反映样品组织形态的形貌及样品晶格条纹图像，可获得无机材料、有机材料，以及无机有机复合材料，尤其是粉体材料、纳米材料、纳米复合材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征。